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Elektrophysik MiniTest 7400測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用信息

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Elektrophysik MiniTest 7400測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用信息

 

MiniTest 7400涂層測(cè)厚儀應(yīng)用于所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量,具有多種圖形顯示選項(xiàng)。儀器菜單控制界面,具備更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理,還配有用于簡易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件,可測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭,*特色的SIDSP®技術(shù)提升度和重現(xiàn)性。

 MiniTest 7400涂層測(cè)厚儀是通過圖形界面操作,并提供類似于電腦的幫助功能:上下文相關(guān)的幫助,歸檔文件夾結(jié)構(gòu)和菜單驅(qū)動(dòng)的導(dǎo)航數(shù)據(jù)的符號(hào)和文本顯示。大大提高了測(cè)量的靈活性和準(zhǔn)確性。多樣化的管理統(tǒng)計(jì)功能,提供許多測(cè)量便利。測(cè)量精度高,具有*的可靠性和穩(wěn)定性。大背光控制鍵允許額外的舒適,即使戴著工作手套。

規(guī)格參數(shù):

數(shù)據(jù)記憶組數(shù) 500

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 約25,000個(gè)讀數(shù)

統(tǒng)計(jì)值(每批組) 讀數(shù)個(gè)數(shù),zui大值,zui小值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置),過程能力指數(shù)CP和CPK,直方圖,趨勢(shì)圖 

校準(zhǔn)模式 zui多5點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控 超過極限值時(shí)聲學(xué)、光學(xué)報(bào)警提示

測(cè)量單位 μm,mm,cm,mils,inch,thou

存放溫度 –10°C … 60°C; 14°F … 140°F

操作溫度 –20°C … 70°C; -4°F … 158°F

數(shù)據(jù)接口 4節(jié)AA (LR06型)電池,或可選外接電源(90 – 240 V~/ 48 – 62 Hz)

校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

電源 IrDA® 1.0紅外接口,可選USB和RS232適配器

尺寸 153 mm x 89 mm x 32 mm;6 inch x 3.5 inch x 1.3 inch

重量 310 g; 11 oz。(主機(jī)包括電池) 

顯示 160 x 160 像素 LCD 帶背光

規(guī)范 DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840,AS3894;SS 184160,SSPC-PA 2,IMO-PSPC,ASTM B 244,B 499,D 7091,E376 

非破壞性涂層厚度的測(cè)量:

  • 非磁性涂料清漆、瓷釉、鉻和鋅鐵磁基礎(chǔ)材料(如鋼材)
  • 隔熱涂料清漆和陽極化鋁和有色金屬(如鋁)?

 

MiniTest內(nèi)存容量:

  • 應(yīng)用程序內(nèi)存數(shù)量10
  • 每個(gè)應(yīng)用程序存儲(chǔ)器的批次數(shù)
  • 具有單個(gè)值記憶的批次數(shù)量100
  • 單個(gè)讀數(shù)的總內(nèi)存容量10,000

 

統(tǒng)計(jì)校準(zhǔn)

大數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器允許存儲(chǔ)多達(dá)250,000個(gè)讀數(shù),zui多500個(gè)批次用于邏輯數(shù)據(jù)管理。
為了滿足高精度測(cè)量的要求,MiniTest 7400傳感器zui多可以校準(zhǔn)5個(gè)點(diǎn)(包括零點(diǎn))。
預(yù)定義的校準(zhǔn)方法可用于執(zhí)行符合工業(yè)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)ISO 19840,SSPC,“瑞典語”,“澳大利亞”的測(cè)量。
此外,可以在粗糙表面上進(jìn)行特殊的校準(zhǔn)方法

 統(tǒng)計(jì)

  • 從單值:x-,σ,kvar,n,max。,min。
  • 從單值:x-,σ,kvar,n,max。,min。,CP,CPK
  • 塊統(tǒng)計(jì):x =,σ,kvar,n,max。,min。
  • 塊統(tǒng)計(jì):x =,σ,kvar,n,max。,min。,CP,CPK
  • 從同一應(yīng)用程序(APPL)中的所有子組(BATCH)
  • 分別將值和統(tǒng)計(jì)打印到APPL-BATCH組
  • 顯示和打印輸出和測(cè)量時(shí)的日期和時(shí)間(年,月,日,小時(shí),分鐘)

校準(zhǔn)方法與其他功能:

  • 通過涂層校準(zhǔn)(CTC)
  • 粗糙表面測(cè)量。幾乎可以消除粗糙度的影響
  • OFFSET函數(shù)添加或減少常量值
  • 外部功能(觸發(fā))將讀數(shù)傳送到存儲(chǔ)器
  • 鍵鎖定以保護(hù)校準(zhǔn)
  • 電池更換期間保存讀數(shù)
  • 限制設(shè)置
  • 測(cè)量單位為微米或密耳
  • 具有高速讀數(shù)的連續(xù)測(cè)量模式,用于識(shí)別zui小值和zui大值
  • 在連續(xù)模式下可選擇穩(wěn)定程序以便快速顯示(7個(gè)讀數(shù)/秒)
  • 具有浮點(diǎn)或固定小數(shù)點(diǎn)的數(shù)據(jù)傳輸
  • 沒有連接探頭的情況下讀取測(cè)量值
  • 稍后打印一個(gè)批次的單個(gè)值
  • 連續(xù)模式下的zui小

種類繁多的可輕松更換探頭(探頭厚度從0.5mm~35mm),滿足各種厚度測(cè)試應(yīng)用要求,兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料,與測(cè)試物表面接觸后,儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理,每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì),可以測(cè)量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。

對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供zui終保護(hù),MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

 

篤摯儀器(上海)有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴,憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù),涵蓋光學(xué)儀器、測(cè)量儀器、無損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測(cè)設(shè)備,努力為客戶解決日新月異的測(cè)量分析技術(shù)挑戰(zhàn),共同提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案,有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。

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